一种用于高频S参数的去嵌算法-icspec

一种用于高频S参数的去嵌算法

来源:电子技术应用ChinaAET 发布时间:2023-02-24

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作者：

纪萍，徐小明，朱国林，季振凯

作者单位：

1.无锡中微亿芯有限公司，江苏无锡 214072。

摘要：

在S参数的测量过程中，需通过去嵌方法去除测试夹具带来的结果误差。该算法通过时域的方法对夹具进行分解。接着将分解得到的夹具S参数采用ABCD矩阵运算进行去除，从而得到待测器件的S参数。通过设计测试板来进行实验，将该算法与传统的AFR和Delta L方法进行了比较，验证了该去嵌算法对高频信号的有效性以及准确性。同时由于该算法先分解再去嵌的特性，使其可应用于左右夹具不一致的情况。

引言：

随着高速传输信号速率的不断增高，印制电路板（PCB）的信号完整性研究对整个通信系统的电气性能来说至关重要^[1]。其中对PCB高速信号质量的测量和管控是信号完整性研究中的重要一环。S参数是利用频域来描述高速信号通道特性的一种方式，可通过S参数提取插入损耗、回波损耗、串扰等信息来对信号的质量进行评价^[2]。

在利用仪器对S参数进行测量时，因为待测器件（DUT）的接口与测试仪器的接口不一致，需要通过夹具进行连接，而夹具的存在会影响测试结果。如何准确地去除夹具的影响，得到想要的DUT的S参数是一个值得研究的课题^[3]。

文章来源：《电子技术应用》杂志1月刊

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